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Nano Indenter® G200原位納米力學測試系統(tǒng)是一種準確，靈活，使用方便的納米級機械測試儀器。 G200 測量楊氏模量和硬度，包括從納米到...

微納米壓痕儀（高溫）通過在真空環(huán)境中單加熱jian端和樣品來測量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FI...

TNI LF-2000原位自動納米操作系統(tǒng)是目前市面上基于SEM電鏡下使用的高自動化程度的納米操作系統(tǒng)，也是一種能夠在SEM電鏡下提供可重復定位、低漂移、閉環(huán)運...

FT-NMT04納米力學性能測試系統(tǒng)是一種多功能的原位掃描電鏡/光纖納米壓頭，能夠準確量化材料在微觀和納米尺度上的力學行為。

InSEM HT高溫原位納米壓痕儀（高溫）通過在真空環(huán)境中單加熱jian端和樣品來測量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡（SE...

原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM NanoFlip產品既可以工作在真空環(huán)境下進行各種原位力學測試；也可以直接在大氣環(huán)境下測試。本產品可進行硬度和楊氏模量測試...

iNano高精度臺式納米壓痕儀是一種緊湊，用戶友好的納米機械測量系統(tǒng)，設計用于硬涂層，薄膜和少量材料。該系統(tǒng)旨在進行準確，可重復的納米級機械測試，包括壓痕，硬度...